-65度三箱沖擊試驗(yàn)箱，三箱法高低溫沖擊箱
1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

-65度三箱沖擊試驗(yàn)箱，三箱法高低溫沖擊箱
機(jī)型 :JS-CJ100/10

內(nèi)箱容積：50/80/100/150L,可定制
測(cè)試環(huán)境條件: 環(huán)境溫度為+25℃、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下
測(cè)試方法: GB/T 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備
高溫室:
預(yù)溫度范圍 :RT～+200℃
升溫時(shí)間 :RT+10℃→+200℃ ≤40min
低溫室:
預(yù)冷溫度范圍: RT~-100℃
降溫時(shí)間: RT → -100℃≤60min
試驗(yàn)室（試樣區(qū)）
試驗(yàn)方式 :氣動(dòng)風(fēng)門切換
3 溫區(qū)沖擊試驗(yàn)條件（高溫-常溫-低溫）
2 溫區(qū)沖擊試驗(yàn)條件（高溫-低溫）
溫度沖擊范圍: -65℃～ +150℃
溫度波動(dòng)度: ±0.5℃
溫度偏差: ±2.0℃
溫度恢復(fù)時(shí)間: ≤5min
恢復(fù)條件試樣：塑料封裝集成電路（均布）
傳感器位置：試樣的上風(fēng)側(cè)
高溫曝露： RT~+150℃：≥30分鐘
環(huán)境溫度曝露：常溫
低溫曝露： RT~-65℃：≥30分鐘
試樣重量：4.5kg（如需要放置重的試樣，請(qǐng)?zhí)崆案嬷?/span>
制冷方式:水冷
-65度三箱沖擊試驗(yàn)箱，三箱法高低溫沖擊箱控制器：
種類： 觸摸智能式溫度控制器
顯示器： 彩色觸摸式液晶顯示
運(yùn)行方式： 程序方式
設(shè)定方式：全中文液晶顯示（中英文可切換）LCD觸摸式面板(耐100.000次畫(huà)線試驗(yàn))
程序容量： 可使用的程序量:最大 120 組,1 個(gè)程序可由 1~99 段次組合而成；
可使用的記憶容量: 1200 段，可重復(fù)執(zhí)行命令:每一個(gè)命令可達(dá) 999 次，程序斜率設(shè)定可由時(shí)間軸來(lái)設(shè)定，程序間可設(shè)定聯(lián)結(jié)使用，程序之制作采用對(duì)談式，操作簡(jiǎn)單具有編輯,清除,插入等功能，4 組時(shí)間信號(hào)輸出控制(可控制待測(cè)物 ON/OFF 動(dòng)作)具有 9 組 PID 參數(shù)設(shè)定，程序執(zhí)行中具有跳段,保持功能，可顯示曲線,數(shù)據(jù)采集；日期、時(shí)間調(diào)整功能；按鍵及畫(huà)面鎖定(LOCK)功能，可連接計(jì)算機(jī)。
顯示分辨率： 溫度分辨：0.1℃；時(shí)間分辨：0.1min
溫度輸入 ：PT100
控制方式： 抗積分飽和PID，BTC平衡調(diào)溫控制方式
曲線記錄功能： 程序執(zhí)行時(shí)可實(shí)時(shí)顯示圖形曲線
附屬功能 ：具有斷電程序記憶,復(fù)電后自動(dòng)啟動(dòng)并接續(xù)執(zhí)行程序功能，具有日期,時(shí)間調(diào)整，預(yù)約啟動(dòng)，關(guān)機(jī)功及畫(huà)面鎖定（LOCK）功能。
三箱法高低溫沖擊箱滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗(yàn) 
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件