高低溫沖擊烘箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊能力。檢測產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，確保產(chǎn)品的品質(zhì)。

 SECS / GEM是用于設(shè)備到主機(jī)數(shù)據(jù)通信的半導(dǎo)體設(shè)備接口協(xié)議。在自動(dòng)化工廠中，接口可以啟動(dòng)和停止設(shè)備處理，收集測量數(shù)據(jù)，更改變量并為產(chǎn)品選擇配方。 SECS（SEMI設(shè)備通信標(biāo)準(zhǔn)）/ GEM（通用設(shè)備模型）標(biāo)準(zhǔn)以確定的方式完成所有這些工作。  由SEMI（半導(dǎo)體設(shè)備和材料）組織開發(fā)，該標(biāo)準(zhǔn)定義了一套通用的設(shè)備行為和通信能力。

高低溫沖擊烘箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱? 概述

高低溫沖擊烘箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊能力。檢測產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，確保產(chǎn)品的品質(zhì)。

特點(diǎn)

• 三箱設(shè)備區(qū)分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試產(chǎn)品置于測試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測試產(chǎn)品為靜態(tài)式。
• 采用觸控式圖控操作介面，操作筒易。
• 沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。

Ø  高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，大時(shí)間可達(dá)999H，大循環(huán)周期可達(dá)9999次。

• 系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)衙擎或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
• 冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。

Ø  可以試驗(yàn)沖擊常溫執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗(yàn);GJB360.7溫度沖擊試驗(yàn);GB/2423.22 溫度沖擊試驗(yàn)

符合標(biāo)準(zhǔn)

• GJB 150.5A-2009 溫度沖擊試驗(yàn)
• GB/T 2424.13-2002 溫度沖擊試驗(yàn)
• GJB 360B-2009 溫度沖擊試驗(yàn)
• GB/T 2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法
• GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-2-1-2007 低溫試驗(yàn)方法
• GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
• GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件規(guī) 
• 所有符合GEM的生產(chǎn)設(shè)備都具有*的界面和一定的行為。 GEM設(shè)備可以使用TCP / IP（使用HSMS標(biāo)準(zhǔn)，SEMI E37）或基于RS-232的協(xié)議（使用SECS-I標(biāo)準(zhǔn)，SEMI E4）與支持GEM的主機(jī)進(jìn)行通信。通常這兩種協(xié)議都受支持。每臺(tái)設(shè)備都可以使用由GEM的通用SECS-II消息進(jìn)行監(jiān)控和控制。  還有許多額外的SEMI標(biāo)準(zhǔn)和工廠規(guī)范參考了GEM標(biāo)準(zhǔn)的特點(diǎn)。